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一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：分離式SSD RDT測(cè)試?yán)匣窨捎糜赟SD固態(tài)硬盤批量性進(jìn)行高溫RDT老化測(cè)試(Reliability Demonstration Testing，RDT，可靠性驗(yàn)證測(cè)試)，老化柜采用左...
固態(tài)硬盤的RDT測(cè)試是固態(tài)硬盤生產(chǎn)過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，RDT測(cè)試中，可以用分體式固態(tài)硬盤RDT測(cè)試?yán)匣駚?lái)測(cè)試，RDT測(cè)試?yán)匣裨跍y(cè)試過(guò)程中起到什么意義？下面我們來(lái)看看。環(huán)儀儀器 固態(tài)硬盤RDT測(cè)試...
分離式硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜用于固態(tài)硬盤的RDT測(cè)試，RDT測(cè)試流程包括DDR測(cè)試、NAND FLASH測(cè)試、TSB測(cè)試等。其中，篩塊則是在NAND FLASH測(cè)試過(guò)程中的一項(xiàng)重要操作。下面，我們來(lái)...
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：周轉(zhuǎn)式高溫RDT測(cè)試?yán)匣窨捎糜赟SD產(chǎn)品進(jìn)行RDT高溫老化測(cè)試，老化柜內(nèi)風(fēng)道為不銹鋼結(jié)構(gòu)，箱內(nèi)空氣封閉自循環(huán)。工作室內(nèi)溫度由溫控儀自動(dòng)控制，并有自動(dòng)恒溫及時(shí)間控制裝置，并附設(shè)有超溫自動(dòng)...
市場(chǎng)上的SSD(Solid State Disk或Solid State Drive，固態(tài)硬盤)盤片在出廠前，一般都會(huì)進(jìn)行可靠性驗(yàn)證測(cè)試(Reliability Demonstration Testi...
電腦硬盤RDT測(cè)試?yán)匣涞目煽啃则?yàn)證測(cè)試(Reliability Demonstration Testing，RDT)，主要目的是篩選不合格的盤片，其中包括了焊接問(wèn)題、顆粒問(wèn)題、DRAM以及主控問(wèn)題，...
為了評(píng)定機(jī)載雷達(dá)及其組成材料的抗霉能力，依據(jù)《HB 6167.11-1989 民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法 霉菌試驗(yàn)》標(biāo)準(zhǔn)的要求，民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備需要做霉菌試驗(yàn)，試驗(yàn)需要使用霉菌長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱，下面...
