電腦硬盤RDT測(cè)試?yán)匣?/span>的可靠性驗(yàn)證測(cè)試(Reliability Demonstration Testing，RDT)，主要目的是篩選不合格的盤片，其中包括了焊接問(wèn)題、顆粒問(wèn)題、DRAM以及主控問(wèn)題，通過(guò)RDT測(cè)試，能保證盤片在使用過(guò)程中穩(wěn)定可靠。
在使用電腦硬盤RDT測(cè)試?yán)匣渥鰷y(cè)試，難免不了需要使用治具，下面，由“環(huán)儀儀器”為大家介紹一下這些測(cè)試治具。
環(huán)儀儀器 電腦硬盤RDT測(cè)試?yán)匣渑涮诇y(cè)試治具如下：
一、芯片測(cè)試治具
1、SMI測(cè)試架：
這種測(cè)試板支持SMI-58XT_AD、59XT_AC、59XT2方案，支持同時(shí)測(cè)試2顆BGA封裝的閃存芯片，能兼容132/152球的測(cè)試座子。
2、得一微測(cè)試架：
種測(cè)試板支持得一微YS9082/83主控方案，支持同時(shí)測(cè)試2顆BGA封裝的閃存芯片，能兼容132/152球的測(cè)試座子。
以上是環(huán)儀儀器硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜可用于的測(cè)試項(xiàng)目，更多測(cè)試項(xiàng)目不逐一講解，具體可以訪問(wèn)“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。
二、SSD開卡治具
1、走USB通道的M.2開卡治具：
這種類型的開卡治具特點(diǎn)是通用性強(qiáng)，價(jià)格便宜，支持熱插拔，但是格式化速度較慢，并且不支持BIT老化測(cè)試。
2、走PCIe通道的M.2開卡治具：
這種類型的開卡治具特點(diǎn)是開卡速度快，支持熱插拔，并具備BIT老化測(cè)試功能，更換測(cè)試接頭便捷，但是上圖治具的開卡測(cè)試只對(duì)SMI方案好用，其他方案暫不支持，而老化測(cè)試功能則沒(méi)有方案限制。
3、瑞昱方案專用M.2開卡治具
4、群聯(lián)方案專用開卡治具
注意：USB接口的測(cè)試治具，不具備老化測(cè)試功能，SSD老化測(cè)試傳輸速度一定要快，最好是用模擬原接口，不然在傳輸效率上會(huì)大大折扣。
三、SSD老化治具
老化測(cè)試治具，因?yàn)闆](méi)有方案差別，主要是用在高溫柜里面的，所以就看接口就可以了。
1、U.2接口 RDT測(cè)試治具
2、U.2、PCIe二合一 RDT測(cè)試治具
3、SATA接口 RDT測(cè)試治具
四、SSD接口轉(zhuǎn)換治具
接口轉(zhuǎn)換工具的選擇，注意你需要轉(zhuǎn)換的接口就可以了，下面這些轉(zhuǎn)換板不僅可以用在測(cè)試設(shè)備（例如RDT高溫柜）里面，也通用于普通的電腦改造，前提是電腦有這么大的改造空間。
1、mSATA轉(zhuǎn)SATA 接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走SATA協(xié)議的mSATA接口 SSD。
2、M.2轉(zhuǎn)SATA 接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走SATA協(xié)議的M.2接口 SSD。
3、M.2轉(zhuǎn)PCIe 接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走NVMe協(xié)議的M.2接口 SSD。
4、M.2轉(zhuǎn)U.2 接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走NVMe協(xié)議的M.2接口 SSD。
此外，在電腦主板上的SSD接口數(shù)量是有限的，如果想接入更多SSD進(jìn)行同步測(cè)試的話，可以用主板擴(kuò)展連接盒工具，來(lái)解決主板接口數(shù)量不夠的問(wèn)題。
在這里要說(shuō)下，一般來(lái)說(shuō)，很多公司不會(huì)給客戶配套這些測(cè)試治具。但是，環(huán)儀儀器做到了這一點(diǎn)，正因?yàn)槿绱?，很多用戶都?huì)選擇“環(huán)儀儀器”的電腦硬盤RDT測(cè)試?yán)匣洹?/p>
