可編程高低溫 SSD BIT老化實驗箱測試要求

固態(tài)硬盤（SSD）在生產過程中，需要在高低溫環(huán)境下進行BIT老化測試，下面，我們根據實際要求，看看測試是怎么做的。

測試硬件：環(huán)儀儀器 可編程高低溫 SSD BIT老化實驗箱

測試軟件：BurnInTest、H2test

測試環(huán)境：高溫75℃／低溫-10℃

測試樣品：固態(tài)硬盤

測試流程設計：

測試流程分為兩個階段，高溫測試和低溫測試。具體步驟如下：

高溫測試（75℃）： 運行BurnInTest軟件進行高溫測試，持續(xù)12小時。

切換至低溫測試（-10℃）： 在測試箱溫度切換至-10℃，運行BurnInTest軟件進行低溫測試，同樣持續(xù)12小時。

測試周期：一個完整的測試周期包括高溫和低溫測試各一次，總時長為72小時，共循環(huán)三個周期。

測試后校驗：

測試結束后，使用H2test軟件進行校驗，檢查固態(tài)硬盤是否出現壞塊。這一步驟在常溫環(huán)境下進行，確保在不同溫度條件下測試后的硬盤狀態(tài)。