可程式高低溫 SSD BIT老化試驗箱

一、產(chǎn)品簡介：

可程式高低溫 SSD BIT老化試驗箱可用于SSD固態(tài)硬盤批量性進行高/低溫濕度老化測試，或用于PCB電路板、各類材料、電子產(chǎn)品等進行高低溫濕度老化測試。

二、依據(jù)標準：

YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的固態(tài)硬盤測試規(guī)范

YD/T 3825-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的機械硬盤測試規(guī)范

T/CCSA 266-2019 數(shù)據(jù)中心用固態(tài)硬盤測試規(guī)范

T/CCSA 266-2019 數(shù)據(jù)中心用固態(tài)硬盤測試規(guī)范

三、技術參數(shù)：

四、產(chǎn)品特點：

1)支持多種SSD測試：面對不同SSD產(chǎn)品的測試只需更換測試板，當載有SSD產(chǎn)品的測試板插入控制板時，控制板能夠智能識別插入的SSD類型并配置成不同PCIe接口，可以重復利用測試，無需重新設計，有效降低測試成本；

2)集成度高：采用模塊化的工控機并以載板形式安裝在控制板上，大大提高了產(chǎn)品集成度，SSD測試環(huán)境和SSD檢測同時在一個單元上實現(xiàn)；

3)可遠程操作：可以遠程對目標測試單元下發(fā)各種測試指令，從而方便對工廠測試過程中可能遇到的各問題進行診斷；

4)提高測試一致性：適用于SSD產(chǎn)品的各個測試階段，包括工程師開發(fā)驗證階段，從而使測試的一致性得到保證，避免了因為更換不同測試設備導致的測試不一致。