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一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:BIT(Burn-In Test)測(cè)試就是使用BIT軟件對(duì)固態(tài)硬盤(pán)進(jìn)行循環(huán)寫(xiě)入測(cè)試,再放入高溫箱中靜置。PCIE SSD BIT測(cè)試柜可以提供SSD的BIT測(cè)試所需要的高溫老化環(huán)境,目的...
編輯 | 環(huán)儀儀器固態(tài)硬盤(pán)SSD BIT測(cè)試箱主要用于固態(tài)硬盤(pán)BIT(Burn-In Test)測(cè)試的試驗(yàn)設(shè)備,固態(tài)硬盤(pán)的BIT測(cè)試可以加速芯片老化,做潛在失效分析,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不足。對(duì)于BIT測(cè)試箱有...
固態(tài)硬盤(pán)的BIT測(cè)試需要用到BIT老化柜,固態(tài)硬盤(pán)如何在BIT老化柜里面做測(cè)試?下面是市面上主流固態(tài)硬盤(pán)廠商常用的試驗(yàn)方法,下面我們來(lái)看看。固態(tài)硬盤(pán)BIT測(cè)試流程:試驗(yàn)設(shè)備:環(huán)儀儀器固態(tài)PCIE通道B...
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:抽拉式SSD高溫RDT測(cè)試柜是專為固態(tài)硬盤(pán)(SSD)進(jìn)行高溫老化測(cè)試而設(shè)計(jì)的設(shè)備。其主要特點(diǎn)在于采用了抽拉式設(shè)計(jì),使得用戶可以輕松放置和取出SSD樣品,提高了操作的便捷性。二、主要組成:...
在科技飛速發(fā)展的時(shí)代,隨著固態(tài)硬盤(pán)(SSD)在存儲(chǔ)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,對(duì)其性能和可靠性的要求也日益提高。抽取式SSD高溫RDT老化柜以其獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢(shì)在固態(tài)硬盤(pán)芯片的檢測(cè)領(lǐng)域取得顯著突破。下面,我們來(lái)看看...
隨著科技的快速發(fā)展,固態(tài)硬盤(pán)(SSD)在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。為了確保SSD在高溫、惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn),抽拉式硬盤(pán)RDT高溫測(cè)試箱應(yīng)運(yùn)而生。而抽拉式硬盤(pán)RDT高溫測(cè)試箱作為一種專業(yè)的測(cè)試設(shè)備,其...
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:高精度SSD RDT高溫測(cè)試柜為一款定制化設(shè)備,測(cè)試柜廣泛應(yīng)用于PCB電路板、電源電子、電腦產(chǎn)品、通訊、生物制藥、儀器儀表,航天材料、汽車(chē)部件、橡塑輪胎、太陽(yáng)能逆變器等領(lǐng)域產(chǎn)品的模擬在高...
市場(chǎng)上的SSD盤(pán)片在出廠前,一般都會(huì)進(jìn)行可靠性驗(yàn)證測(cè)試(Reliability Demonstration Testing,RDT),主要測(cè)試盤(pán)片是否能正常工作,硬件是否存在虛焊,DRAM(動(dòng)態(tài)隨機(jī)存...