SSD高低溫測試箱是一款針對SSD成品測試的高集成度測試平臺，可以在不同溫度環(huán)境下，直接測試SSD的壽命和其他多項性能參數(shù)，為NVMe固態(tài)硬盤的可靠性，數(shù)據(jù)安全保護能力提供有效的測試環(huán)境。
技術參數(shù)：
性能優(yōu)勢：
支持 SATAI/II/III 的測試；
支持 SSD測試片數(shù)高達72片；
支持（-70 度~+180 度）的測試；
支持異常斷電測試和老化測試；
支持自動化溫控測試；
支持全部采用軟體進行智能化控制測試；
支持測試測試軟體的定制化；
支持箱內(nèi)風速與溫度均衡；
支持快速升降溫控制；
支持網(wǎng)絡化控制，可以異地控制測試并看測試結果；
支持 APP 遠程控制測試；
主要試驗步驟：
耐高溫：把試件放入高低溫試驗箱中，以07-1℃/min的溫度變化速度將溫度調(diào)到90上2℃.待平衡后保特4h, 然后以同樣的速度降到室溫。
耐低溫：把試件放入高低溫試驗箱中，以0.7-1℃/min的溫度變化速度，將溫度調(diào)到-25℃. 待平衡后保待4h, 然后以同樣的速度升到室溫。
溫度循環(huán)：把試驗樣品分別放入高低溫試驗箱中，按下列步驟調(diào)試溫度:
a)在(-25+2)℃的恒識條件下放置2h;
b)在常溫常濕條件下放置1h;
c)在(90±2)℃的恒溫條件下放置2h;
d)在常溫常濕條件下放置1h。
從a)到d)為一個循環(huán)周期共進行5個循環(huán)，恢復2h后檢查。
如有SSD高低溫測試箱選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。
