EMMC高低溫循環(huán)試驗箱可針對NAND Flash、UFS芯片進行高速、高低溫度范圍的全功能動態(tài)老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如UFS和eMMC），還可進行接口協(xié)議和性能測試。存儲器高速老化測試系統(tǒng)可實現(xiàn)早期失效篩選、故障定位、量產(chǎn)老化等測試需求。下面，我們來看看EMMC高低溫循環(huán)試驗箱的技術(shù)要求。
產(chǎn)品名稱：環(huán)儀儀器 EMMC高低溫循環(huán)試驗箱
系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計：
1.測試區(qū)：支持高低溫測試，溫度范圍可設(shè)定在-50℃～+150℃。
2.溫區(qū)隔離設(shè)計：隔離區(qū)通過調(diào)節(jié)尺寸以適應(yīng)不同溫區(qū)需求，最小尺寸可與第一溫度區(qū)合并。隔離區(qū)的直通板采用印刷電路板代替?zhèn)鹘y(tǒng)線纜，實現(xiàn)信號和電源在溫區(qū)之間的穩(wěn)定傳輸，同時增強隔熱性能。
3.散熱管理：在隔離區(qū)側(cè)面安裝散熱裝置（如風(fēng)扇），帶走直通板的熱量，防止熱量傳導(dǎo)至其他區(qū)域。采用側(cè)面出風(fēng)設(shè)計，確保溫度均勻，控制誤差在±5℃以內(nèi)，實現(xiàn)精準(zhǔn)的溫度控制。
4.模塊化設(shè)計：通過配置不同的測試板，支持多種存儲器（如Nand Flash、Nor Flash、DDR2/DDR3/DDR4、eMMC、SSD）的老化測試，實現(xiàn)靈活的測試需求。
技術(shù)參數(shù)：
設(shè)計性能：
1.高速高性能的NAND BIB設(shè)計
支持8個Burn-in Board并行測試，單個Burn-in Board支持96個DUT。
系統(tǒng)最大支持768個DUT。
支持ONFI4.0規(guī)范，測試速率高達800Mbps。
支持BBM、CFM、FBC功能，并支持數(shù)據(jù)分析專用工具。
支持DUT的供電電壓拉偏測試。
2.高速高性能的UFS BIB設(shè)計
支持8個Burn-in Board并行測試，單個Burn-in Board支持80個DUT。
系統(tǒng)最大支持640個DUT。
支持UFS2.2/3.1協(xié)議規(guī)范，測試速率最高支持11.6Gbps（HS-G4B）。
支持UFS協(xié)議的標(biāo)準(zhǔn)SCSI命令和workload壓力測試。
支持UFS的測試性能數(shù)據(jù)分析。（IOPS、讀寫帶寬等）
如有EMMC高低溫循環(huán)試驗箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
