整體式升溫測試室是針對高性能電子產(chǎn)品模擬高溫惡劣環(huán)境的試驗設備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備，測試室溫度范圍+40℃~+100℃，適合所有電子產(chǎn)品的老化測試。對于測試室的選型，大家可以參考下面為大家介紹的內(nèi)容。
整體式升溫測試室選型參數(shù)：
整體式升溫測試室選型要求：
1.加熱試驗
將溫度傳感器置于高溫老化試驗箱工作空間內(nèi)任意一點，全功率加熱，記錄工作室溫度首次由室溫升至最高工作溫度的時間，結(jié)果不應超過120分鐘。
2.表面溫度測試
高溫老化試驗箱工作溫度首次達到最高工作溫度并穩(wěn)定2小時后，用溫度計測試箱體表面溫度，對最高工作溫度不超過200℃的試驗箱，表面溫度不應大于室溫加35℃；最高工作溫度超過200℃，表面溫度應按公式確定。
3.絕緣電阻測試
試驗按GB998中6.2規(guī)定的方法進行，其結(jié)果應與電加熱器接線端子（含引出線）對控制系統(tǒng)開路時進行1500V、交流50H、1min的絕緣強度試驗相一致，絕緣不應被擊穿。
4. 介電強度測試
試驗按GB998中6.3條的規(guī)定進行，當試驗結(jié)果符合電加熱器接線端子（含引出線）與控制系統(tǒng)斷路要求時，外殼應能承受1500V、交流50H，歷時1min的介電強度試驗，絕緣不應被擊穿。
5.噪音測試
按照ZBN61012規(guī)定的方法進行測試，結(jié)果整機噪聲不高，為75dB(A)。
