可程式高低溫SSD老化試驗(yàn)箱

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
固態(tài)硬盤(SolidStateDrives，SSD)，是用固態(tài)電子存儲(chǔ)芯片陣列制成的硬盤，具有傳統(tǒng)機(jī)械硬盤不具備的快速讀寫、質(zhì)量輕、能耗低以及體積小等優(yōu)點(diǎn)。可程式高低溫SSD老化試驗(yàn)箱則用于固態(tài)硬盤需要在高溫、低溫條件下進(jìn)行可靠性測(cè)試，測(cè)試狀態(tài)既包括斷電狀態(tài)，也包括通電下最高讀取速率的工作狀態(tài)。

二、滿足標(biāo)準(zhǔn)：
YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測(cè)試規(guī)范
JEDEC 218

三、技術(shù)參數(shù)：

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：
可程式高低溫SSD老化試驗(yàn)箱采用精確的冷凍系統(tǒng)及風(fēng)道系統(tǒng)的控制，溫濕度控制準(zhǔn)確能很好的滿足SSD的高速度，高能耗，高熱量，高精度的要求?？臻g小，效率高，可移植性強(qiáng)?？扇菁{64片SSD產(chǎn)品，測(cè)試環(huán)境能滿足從-40℃到150℃，濕度從5%到98%的長(zhǎng)期的精確控制。

在固態(tài)硬盤（SSD）上市之前，必須經(jīng)歷老化、高低溫等一系列試驗(yàn)，其中對(duì)于溫度控制、風(fēng)速等方面有特殊的測(cè)試要求。盡管市場(chǎng)上存在多種固態(tài)硬盤測(cè)試產(chǎn)品，但普遍存在風(fēng)場(chǎng)風(fēng)速分布不均、溫度均勻性差、能耗高、測(cè)試效率低等問(wèn)題。

為解決這些問(wèn)題，“環(huán)儀儀器”對(duì)試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)布局、制冷系統(tǒng)和控制系統(tǒng)等方面進(jìn)行了仔細(xì)的優(yōu)化設(shè)計(jì)，在風(fēng)速和溫度一致性、能源效益等方面取得了顯著的改進(jìn)。