半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱的應(yīng)用

半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱是一種用于模擬半導(dǎo)體元件在恒定溫度和濕度條件下進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估的設(shè)備。其作用主要對(duì)半導(dǎo)體元器件進(jìn)行濕熱存儲(chǔ)、高溫高濕試驗(yàn)，這些試驗(yàn)一般會(huì)使用到半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱。

半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱在實(shí)際應(yīng)用中，會(huì)涉及到以下標(biāo)準(zhǔn)：

1. GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第42部分：溫濕度貯存

2. IEC 60749-42:2014

3. JEDEC JESD22-A100E：2020 循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結(jié)壽命測(cè)試

4. JEDEC JESD22-A101D.01：2021 穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測(cè)試

5. EIAJ ED-4701 100：2001 半導(dǎo)體器件的環(huán)境和耐久性試驗(yàn)方法

下面結(jié)合半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱，來(lái)聊聊一些相關(guān)試驗(yàn)。

1. 在《GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第42部分：溫濕度貯存》標(biāo)準(zhǔn)中，需要把半導(dǎo)體器件放置在試驗(yàn)箱中，做以下試驗(yàn)：

a. 40℃、90%RH，持續(xù)8000h的存儲(chǔ)試驗(yàn)。

b. 60℃、90%RH，持續(xù)4000h的存儲(chǔ)試驗(yàn)。

c. 85℃、85%RH，持續(xù)1000h的存儲(chǔ)試驗(yàn)。

2. 在《JESD22-A100D 穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測(cè)試》標(biāo)準(zhǔn)中，需要進(jìn)行以下試驗(yàn)：

測(cè)試時(shí)間:1008（-24，+168）小時(shí)；

測(cè)試溫度：30~65℃，但僅在65℃駐留；

測(cè)試濕度：90%~98%RH；

溫度變化速率：8.75℃/h~17.5℃/h;

以上兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中的試驗(yàn)，在使用半導(dǎo)體元件恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱時(shí)，只需要把測(cè)試產(chǎn)品放置在實(shí)驗(yàn)箱中，在控制器設(shè)置好溫度、濕度、測(cè)試時(shí)間，就可以自動(dòng)進(jìn)行試驗(yàn)了。