半導體芯片高低溫濕熱箱可用于哪些試驗項目

半導體芯片高低溫濕熱箱是用于對半導體芯片和電子元器件進行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設備。根據(jù)相關標準，可以對半導體芯片進行的試驗有以下5個。

半導體芯片高低溫濕熱箱可以做的實驗有：

1. 高溫儲存
測試條件：85℃±5℃
持續(xù)時間：1000h

2. 低溫儲存
測試條件：-40℃±5℃
持續(xù)時間：1000h

3. 溫度循環(huán)
測試條件：-40℃～85℃
持續(xù)時間：200個循環(huán)

4. 濕熱循環(huán)
測試條件：40℃～85℃，RH=85%
持續(xù)時間：10個循環(huán)

5. 高溫高濕壽命測試
測試條件：85℃、85%RH
持續(xù)時間：1000h

環(huán)儀儀器半導體芯片高低溫濕熱箱滿足以上測試需求，如有選型疑問，歡迎咨詢。