半導體分立器件的恒加速度試驗

半導體分立器件的恒加速度試驗，是為了確定離心力對器件的影響。恒定加速度試驗是一種加速試驗，以檢驗在沖擊和振動試驗中不一定能檢查出來的結(jié)構(gòu)和機械上的缺陷。

下面，環(huán)儀小編帶大家認識一下半導體分立器件的恒定加速度試驗。

設(shè)備準備：

試驗樣品：按照標準要求中的半導體分立器件

試驗設(shè)備：轉(zhuǎn)臂式恒加速度離心機

設(shè)備型號：HYZB系列

設(shè)備廠家：環(huán)儀儀器

試驗程序：

應(yīng)通過外殼或正常安裝把器件固定住，引線或電纜應(yīng)適當保護，然后對器件在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2各方向上加規(guī)定的離心加速度1min。

加速度逐漸增加到規(guī)定值的時間不少于20s，加速度逐漸減到零的時間不少于20s。

詳細規(guī)范中應(yīng)規(guī)定下列細節(jié):

a.所加離心加速度大小，以(m/s2)為單位;

b.試驗后所進行的測試。

轉(zhuǎn)臂恒加速度離心機參數(shù)：