快速升降溫試驗箱在表面貼裝電子元器件產品中的應用

元器件的組裝越復雜，越需要更多的試驗來驗證可靠性。其中，環(huán)境應力篩選（ESS）就是其中的一個試驗項目，環(huán)境應力篩選用到的試驗設備為快速升降溫試驗箱。

在環(huán)境應力篩選(ESS)試驗、老化試驗、初始功能試驗或在初期使用過程中，主要由于不充分的性能或生產工藝而導致的失效。

為什么表面貼裝 電子元器件要做應力篩選？

篩選過程利用由環(huán)境產生的應力，使組裝件中“薄弱的”元器件的應力超限達到失效點，防止這些潛在缺陷在現(xiàn)場使用中出現(xiàn)，引起現(xiàn)場失效。產生這些應力的環(huán)境可能或不可能與產品使用環(huán)境條件有關。

一旦出現(xiàn)失效，元器件就會被檢測出來并被維修、替換、報廢，或為未來產品重新設計。ESS必須在不損壞“正常的”元器件的情況下進行。ESS不是加速可靠性試驗。

環(huán)境應力篩選的主要設備：

1.快速升降溫試驗箱/快速溫度變化試驗箱

2.設備型號：HYQT系列

3.設備品牌：環(huán)儀儀器

4.升降溫速率的選擇：5℃/min、10℃/min、15℃/min