恒溫恒濕試驗(yàn)箱需要做校準(zhǔn)，目的是為了更好地發(fā)揮可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱的效果和穩(wěn)定性，最重要的是在出廠前進(jìn)行一周左右的調(diào)整校準(zhǔn)工作，進(jìn)行調(diào)整校準(zhǔn)，盡量模擬可靠的試驗(yàn)環(huán)境，對樣品進(jìn)行正確的分析和評價。
目前，恒溫恒濕試驗(yàn)箱的校準(zhǔn)主要用到以下三種方法：
1.有負(fù)荷條件的校準(zhǔn):
該方法的優(yōu)點(diǎn)是測試樣品對試驗(yàn)箱性能的影響，容易得到測試樣品的重要部件和部位環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。其主要缺點(diǎn)是更換測試樣品時需要重新校準(zhǔn)。
2.在無負(fù)荷條件下校準(zhǔn)。
該方法的優(yōu)點(diǎn)是，可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱的整個工作區(qū)域得到校準(zhǔn)，可以有效評價試驗(yàn)箱的適用性，其主要缺點(diǎn)是不能評價試驗(yàn)樣品對試驗(yàn)箱的影響?？筛鶕?jù)結(jié)合使用者需要選擇現(xiàn)實(shí)中經(jīng)常用的溫濕度點(diǎn)，計(jì)量的位置設(shè)置：如果設(shè)備體積小于2立方米。則濕度點(diǎn)三個、溫度點(diǎn)九個，反之如果體積大于2立方米，濕度點(diǎn)四個，溫度點(diǎn)十五個。
3、使用中的實(shí)測:該方法不僅具有上述方法的優(yōu)點(diǎn)。而且可以獲得測試樣本在環(huán)境過程中的全面環(huán)境參數(shù)，往往在對環(huán)境要求較高的產(chǎn)品測試時采用。其主要缺點(diǎn)是，每次環(huán)境試驗(yàn)都需要使用測量設(shè)備，通常在試驗(yàn)箱校準(zhǔn)時采用無負(fù)荷條件下的校準(zhǔn)方法。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)有以下三類：
（1）電子工業(yè)部第五研究所編寫的GB/T5170.1-1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》、GB/TS170.2-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》、GB/T5170-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備等》。
（2）河北省計(jì)量科學(xué)研究院編寫的JJF1101-2003《恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》。
（3）機(jī)械電子工業(yè)部編寫的GBI1158-1989《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10589-1989《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10592-1899《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB10586-1989《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10587-1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。
