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IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701之規(guī)范條件列表

時間:2022-07-19 09:11:10 作者:環(huán)儀小編 點擊:

IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701之規(guī)范條件列表

◎RAMP試驗條件列表
試驗名稱沖擊溫度1沖擊溫度2溫變率(Ramp)檢查
大哥大用PCB板 125℃ -40℃ 5℃/min
錫須試驗 -40℃ 85℃ 5℃/min
無鉛合金(thermal Cycling test) 0℃ 100℃ 20min(5℃/min)
覆晶技術(shù)的極端溫度測試-規(guī)格1-范圍1 -120℃ 115℃ 5℃/min
覆晶技術(shù)的極端溫度測試-規(guī)格1-范圍2 -120℃ 85℃ 5℃/min
無鉛PCB(thermal Cycling test) -40℃ 125℃ 30min(5.5℃/min)
TFBGA對固定焊錫的疲勞模型 40℃ 125℃ 15min(5.6℃/min)
錫鉍合金焊接強(qiáng)度 - 40℃ 125℃ 8℃/min~20℃/min
JEDEC JESD22-A104
溫度循環(huán)測試(TCT)
-40℃ 125℃ 20min(8℃/min) 100小時檢查一次
INTEL焊點可靠度測試 -40℃ 85℃ 15min(8.3℃/min)
CSP PUB與焊錫溫度循環(huán)測試 -20℃ 110℃ 15min(8.6℃/min)
MIL-STD-8831 65℃ 155℃ 10min(9℃/min)
CR200315 +100℃ -0℃ 10min(10℃/min)
IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 0℃ 100℃ 10min(10℃/min)
溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命-1 0℃ 100℃ 10℃/min
JEDEC JESD22-A104-A-條件1 0℃ 100℃ 10℃/min
JEDEC JESD22-A104-A-條件1 0℃ 100℃ 10℃/min
GR-1221-CORE 70~85℃ -40℃ 10℃/min
GR-1221-CORE -40℃ 70℃ 10℃/min 放置11個sample
環(huán)氧樹脂電路板-極限試驗 -60℃ 100℃ 10℃/min
光纜 -材料特性試驗 -45℃ 80℃ 10℃/min
汽車音響-特性評估 -40℃ 80℃ 10℃/min
汽車音響-生産ESS -20℃ 80℃ 10℃/min
JEDEC JESD22-A104B(July 2000)-J形式 0℃ 100℃ 10℃~14℃/min 200cycle檢查一次,2000cycle進(jìn)行拉力試驗
JEDEC JESD22-A104-A-條件2 -40℃ 125℃ 11℃/min (循環(huán)數(shù)為測試到待測品故障為止)
JEDEC JESD22-A104-A-條件2 -40℃ 125℃ 11℃/min
比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接-條件2 -40℃ 125℃ 11℃/min
裸晶測試(Bare die test) -40℃ 125℃ 11℃/min
芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) -40℃ 125℃ 11℃/min
無鉛CSP產(chǎn)品-溫度循環(huán)可靠度測試 -40℃ 125℃ 15min(11℃/min)
IEC 60749-25-G(JESD22-A104B) +125 -40℃ 15℃/min以下
IEC 60749-25-I(JESD22-A104B) +115 -40℃ 15℃/min以下
IEC 60749-25-J(JESD22-A104B) +100 0℃ 15℃/min以下
IEC 60749-25-K(JESD22-A104B) +125 0℃ 15℃/min以下
IEC 60749-25-L(JESD22-A104B) ㄚ110 -55℃ 15℃/min以下
IEC 60749-25-N(JESD22-A104B) ㄚ80 -30℃ 15℃/min以下
IEC 60749-25-O(JESD22-A104B) ㄚ125 -25℃ 15℃/min以下
家電用品 25℃ 100℃ 15℃/min
計算機(jī)系統(tǒng) 25℃ 100℃ 15℃/min
通訊系統(tǒng) 25℃ 100℃ 15℃/min
民用航空器 0℃ 100℃ 15℃/min
工業(yè)及交通工具-客艙區(qū)-1 0﹠ 100﹠ 15﹠/min
工業(yè)及交通工具-客艙區(qū)-2 -40﹠ 100﹠ 15﹠/min
引擎蓋下環(huán)境-1 0℃ 100℃ 15℃/min
引擎蓋下環(huán)境-2 -40℃ 100℃ 15℃/min
DELL液晶顯示器 0℃ 100℃ 15℃/min
JEDEC JESD22-A104B (July 2000)-G形式 -40℃ 125℃ 10~14min-16.5℃/min 200cycle檢查一次,2000cycle進(jìn)行拉力試驗
IPC-9701-TC1 100℃ 0℃ 20℃/min
IPC-9701-TC2 100℃ -25℃ 20℃/min
IPC-9701-TC3 125℃ -40℃ 20℃/min
IPC-9701-TC4 125℃ -55℃ 20℃/min
IPC-9701-TC5 100℃ -55℃ 20℃/min
溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命-2 0℃ 100℃ 20℃/min
飛彈的電路板溫度循環(huán)試驗 -55℃ 100℃ 20℃/min 試驗結(jié)束進(jìn)行送電測試
改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號完整-測試設(shè)備設(shè)計 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接-條件1 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
GS-12-120 0℃ 100℃ 5min(20℃/min)
半導(dǎo)體-特性評估試驗 -55℃ 125℃ 20℃/min
連接器-壽命試驗 30℃ 80℃ 20℃/min
樹脂成型品-品質(zhì)確認(rèn) -30℃ 80℃ 20℃/min
DELL無鉛試驗條件(thermal Cycling) 0℃ 100℃ 20℃/min
DELL液晶顯示器計算機(jī) -40℃ 65℃ 20℃/min
覆晶技術(shù)的極端溫度測試-規(guī)格2-范圍2 -120℃ 85℃ 10min(20.5℃/min)
環(huán)氧樹脂電路板-加速試驗 -30℃ 80℃ 22℃/min
汽車電器 +80℃ -40℃ 24℃/min
光簽接頭 -40℃ 85℃ 24℃/min 10cycle檢查一次
測試Sn-Ag焊劑在板子的疲勞效應(yīng) -15℃ 105℃ 25℃/min 0、250、500、1000cycle電子顯微鏡 檢查一次
PCB的產(chǎn)品合格試驗 -40℃ 85℃ 5min(25℃/min)
PWB的嵌入電阻&電容的溫度循環(huán) -40℃ 125℃ 5.5min(30℃/min)
電子原件焊錫可靠度-2-1 0℃ 100℃ <30℃/min
電子原件焊錫可靠度-2-2 20℃ 100℃ <30℃/min
電子原件焊錫可靠度-2-3 -65℃ 100℃ <30℃/min www.oven.cc
◎RAMP試驗溫變率列表
(斜率可控制)
[
5℃~30 ℃/min]



30℃/min 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
28℃/min LED汽車照明燈
25℃/min PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)
24℃/min 光纖連接頭
20℃/min IPC-9701 、覆晶技術(shù)的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

17℃/min MOTO
15℃/min IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)
11℃/min 無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
10℃/min 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
5℃/min 錫須溫度循環(huán)試驗






標(biāo)簽: 環(huán)境試驗

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