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《GB/T 12085.7-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第7部分:滴水、淋雨》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備的環(huán)境試驗(yàn),特別是針對(duì)滴水和...
《GB/T 12085.11-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第11部分:長(zhǎng)霉》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備的環(huán)境試驗(yàn),特別是針對(duì)長(zhǎng)霉環(huán)境...
《GB/T 12085.14-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第14部分:露、霜、冰》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備的環(huán)境試驗(yàn),特別是針對(duì)露...
GB/T 26242-2010 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)題為《信息技術(shù) 九針點(diǎn)陣式打印機(jī)芯通用規(guī)范》(General Specification for 9-Pin Dot Matrix Printer H...
GB/T 23647-2009 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)題為《自助服務(wù)終端通用規(guī)范》(General Specification for Self-service Terminals)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了自助服務(wù)...
GB/T 12628-2008 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)題為《硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范》(General Specifications for Hard Disk Drives)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硬磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器(Ha...
GB/T 20609-2006 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)題為《交通信息采集 微波交通流檢測(cè)器》(Traffic Information Collection - Microwave Traffic Flow...
GB/T 18239-2000 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)題為《集成電路(IC)卡讀寫(xiě)機(jī)通用規(guī)范》(General Specification for Integrated Circuit (IC) Card...