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雙85測(cè)試國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)有哪些?

時(shí)間:2022-02-08 13:54:10 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

一般光伏、單晶硅等產(chǎn)品需要做雙85測(cè)試的時(shí)候,就需要用到雙85濕熱試驗(yàn)箱。雙85試驗(yàn)箱又可以叫恒溫恒濕試驗(yàn)箱,雙85測(cè)試只是其中的一個(gè)溫濕度設(shè)定值。下面告訴你雙85測(cè)試國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)有哪些。

滿足標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分∶低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分:濕熱試驗(yàn)
GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分∶試驗(yàn)方法試驗(yàn)A∶低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分∶試驗(yàn)方法試驗(yàn)B∶高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分∶試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分∶試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱 ( 12h + 12h循環(huán))


雙85測(cè)試用試驗(yàn)箱


雙85測(cè)試用的試驗(yàn)箱與恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一樣的,因?yàn)楹銣睾銤裨囼?yàn)箱的溫度范圍-70℃~(+150℃)、濕度范圍 30-98%RH 都很廣,可以做高溫高濕、低溫低濕、低溫高濕等等,綜合起來(lái)就是說(shuō)恒溫恒濕試驗(yàn)箱可以做雙85試驗(yàn),作用是遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于普通的雙85濕熱試驗(yàn)箱。

我司的雙85試驗(yàn)箱(恒溫恒濕試驗(yàn)箱)除了能滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)外,針對(duì)不同行業(yè)需要做特定測(cè)試的,還可以做非標(biāo)定制。產(chǎn)品質(zhì)量過(guò)硬,能長(zhǎng)時(shí)間溫度運(yùn)行而不出現(xiàn)故障。

擴(kuò)展閱讀:

雙85試驗(yàn)箱主要用于光伏行業(yè),及太陽(yáng)能行業(yè)。用于測(cè)試光伏組件、單晶硅組件、地面用晶體硅、地面用薄膜光伏組件等一系列與光伏,太陽(yáng)能等相關(guān)產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)。

雙85測(cè)試規(guī)范要求組件需進(jìn)行:Thermal cycle test熱循環(huán)測(cè)試(-40℃~+ 85℃ 50~200次,最長(zhǎng)1200H)、Humidity-freeze test濕冷凍測(cè)試(85℃ 85%~-40℃ 10次,約240H )、Damp Heat濕熱測(cè)試 (85℃ 85%,1000H),以確認(rèn)組件能夠承受高溫高濕之后隨之的負(fù)溫度影響。

以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效,另外確定光伏組件曝露在高濕度下而產(chǎn)生的熱應(yīng)力及能夠抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力.其試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)與能力需滿足IEC61215、IEC61646 的相關(guān)溫濕度變化曲線的要求。


標(biāo)簽: 雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱

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