《YD/T 2152-2010 光纖活動連接器可靠性要求及試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)

YD/T 2152-2010《光纖活動連接器可靠性要求及試驗(yàn)方法》是一項(xiàng)中華人民共和國通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了光纖活動連接器的可靠性要求和相應(yīng)的試驗(yàn)方法。

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光纖活動連接器可靠性要求的相關(guān)術(shù)語和定義、分類、試驗(yàn)項(xiàng)目、產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)項(xiàng)目要求、結(jié)構(gòu)及材料的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目要求等，并規(guī)定了各項(xiàng)可靠性要求的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法及評定標(biāo)準(zhǔn)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有類型和型號的光纖活動連接器。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
高低溫試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、加濕溫度循環(huán)試驗(yàn)、振動試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、振動試驗(yàn)機(jī)、碰撞試驗(yàn)臺等。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗(yàn)程序（部分）：

高溫老化

a)試驗(yàn)條件
溫度:+85℃;
持續(xù)時間:168h;

普通要求不需要在線記錄測試數(shù)據(jù)，加嚴(yán)要求在間隔時間點(diǎn)記錄測試數(shù)據(jù)。

b）程序

1）普通要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里，溫度85℃，保持恒溫168h。試驗(yàn)結(jié)束后，以規(guī)定的速率將溫度降至室溫，停留2h后，測試并記錄插入損耗和回波損耗。

2）加嚴(yán)要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里,在試樣的兩端分別接入光源和光功率計，如圖3所示。以規(guī)定的時間升溫，直至+85℃，保持恒溫168h。加嚴(yán)要求恒溫時間可依據(jù)產(chǎn)品使用要求，試驗(yàn)時間可延長至500h、1000h和2000h。試驗(yàn)結(jié)束后，以規(guī)定的速率將溫度降至室溫，停留2h后，測試并記錄插入損耗和回波損耗。

c）試驗(yàn)后，樣品不得有機(jī)械損傷，如變形、龜裂、松弛等現(xiàn)象，參數(shù)變化量應(yīng)符合5.3.7節(jié)要求。