《GB/T 4937.12-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動》標準

《GB/T 4937.12-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動》是中國國家標準化委員會發(fā)布的標準，用于評估半導體器件在振動環(huán)境下的可靠性和性能穩(wěn)定性。該標準規(guī)定了掃頻振動試驗的方法和要求。

一、范圍：
GB/T4937的本部分的目的是測定在規(guī)定頻率范圍內，振動對器件的影響。本試驗是破壞性試驗，通常用于有空腔的器件。
本試驗與GB/T 2423.10-2008基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。

二、試驗項目：
振動試驗。

三、試驗設備：
振動試驗臺。

四、設備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

樣品應剛性地安裝在振動臺上，引出端和電纜也應安全固定，以避免引入額外的引線共振。應使樣品做簡諧振動，其振幅兩倍幅值為1.5 mm(峰-峰值)，或其峰值加速度為200 m/s2 ，取較小者。振動頻率在20 Hz~2 000 Hz范圍內近似對數(shù)變化。從20 Hz~2 000 Hz再回到20 Hz的整個頻率范圍的振動時間不應少于4 min。在X、Y和Z3個方向上各進行4次這樣的循環(huán)(共12次)。

在掃頻振動試驗中，半導體器件將在特定的振動頻率和振動幅度下進行振動，以模擬實際應用環(huán)境中的振動情況。通過該試驗，可以評估器件在振動環(huán)境下的機械強度、焊接可靠性、封裝可靠性等性能指標。

《GB/T 4937.12-2018》標準規(guī)定了試驗裝置、試驗樣品的選擇和準備、試驗條件、試驗過程和評定方法等方面的要求。通過該標準進行的掃頻振動試驗可以幫助制造商和使用者了解半導體器件在振動環(huán)境下的可靠性表現(xiàn)，指導產品設計和改進工藝。