《DB 44/T 2009-2017 移動(dòng)終端電容式觸摸屏通用技術(shù)規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了移動(dòng)終端電容式觸摸屏的術(shù)語(yǔ)和定義、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、標(biāo)簽、包裝、運(yùn)輸和貯存。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于以玻璃或膜材為主要基材，經(jīng)黃光印刷或激光雕刻等工藝制成的各類結(jié)構(gòu)的電容式觸摸屏（以下簡(jiǎn)稱“觸摸屏”或“TP”(Touch Pannel) ) 。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
冷熱沖擊試驗(yàn)、高溫高濕試驗(yàn)、高低溫試驗(yàn)等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱等。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗(yàn)方法（部分）：

1. 冷熱沖擊
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在冷熱沖擊試驗(yàn)箱中，交替溫度分別設(shè)置為-40℃±3℃和8O℃±2℃，各停留30分鐘，為一次循環(huán)，設(shè)定溫度變化率＞25℃/分鐘，高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間在5分鐘以內(nèi)，連續(xù)循環(huán)10次，取出產(chǎn)品，在室溫(20℃~25℃)下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。

2. 低溫儲(chǔ)存
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在低溫試驗(yàn)箱中，溫度設(shè)置為-40℃±3℃，存放24小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。

3. 高溫儲(chǔ)存
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在高溫試驗(yàn)箱中，溫度設(shè)置為8O℃±2℃，存放24小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。

4. 高溫高濕儲(chǔ)存
將不包裝不通電的樣品放在高溫高濕試驗(yàn)箱中，溫度設(shè)置為60℃±2℃，濕度設(shè)置為90%RH±3%RH，存放48小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測(cè)。