《GB/T 26225-2010 信息技術(shù) 移動(dòng)存儲(chǔ) 閃存盤(pán)通用規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 26225-2010是中國(guó)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了移動(dòng)存儲(chǔ)設(shè)備中的閃存盤(pán)（Flash Drive）的通用規(guī)范。

該標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)閃存盤(pán)的設(shè)計(jì)、制造和使用進(jìn)行規(guī)范，以確保閃存盤(pán)的質(zhì)量、性能和互操作性符合規(guī)范要求。

一、范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了閃存盤(pán)的術(shù)語(yǔ)和定義、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志﹑包裝、運(yùn)輸和貯存等相關(guān)內(nèi)容。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于閃存盤(pán)(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“產(chǎn)品”)，其他包含閃存盤(pán)功能模塊的設(shè)備也可參考。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
高低溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、包裝運(yùn)輸?shù)湓囼?yàn)、碰撞試驗(yàn)等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、跌落試驗(yàn)機(jī)等。

四、設(shè)備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器

五、試驗(yàn)方法（部分）：

1. 碰撞試驗(yàn)
按GB/T 2423.6-1995“試驗(yàn)Eb”進(jìn)行。受試樣品須進(jìn)行初始檢測(cè)，安裝時(shí)要注意重力影響，按表5和表6規(guī)定值，在不工作條件下，分別對(duì)3個(gè)互相垂直軸線(xiàn)方向進(jìn)行碰撞。試驗(yàn)后進(jìn)行最后檢測(cè)。

2. 跌落試驗(yàn)
對(duì)受試樣品進(jìn)行初始檢測(cè)，將運(yùn)輸包裝件處于準(zhǔn)備運(yùn)輸狀態(tài)，按GB/T 2423.8-1995的規(guī)定進(jìn)行預(yù)處理4 h。
a)將運(yùn)輸包裝件按GB/T 2423.8-1995的要求和本標(biāo)準(zhǔn)表5的規(guī)定值進(jìn)行跌落﹐任選四面﹐每面跌落一次。試驗(yàn)后按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定檢查包裝件的損壞情況，并對(duì)受試樣品進(jìn)行最后檢測(cè)。
b)將不帶包裝的產(chǎn)品按GB/T 2423.8-1995的要求和本標(biāo)準(zhǔn)表6的規(guī)定值進(jìn)行跌落試驗(yàn)，每個(gè)面向下跌落兩次，6面共12次，試驗(yàn)后按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定檢查產(chǎn)品的損壞情況，并對(duì)受試樣品進(jìn)行最后檢測(cè)，允許機(jī)殼有輕微開(kāi)裂，功能檢查應(yīng)正常。

通過(guò)遵循GB/T 26225-2010標(biāo)準(zhǔn)，閃存盤(pán)的制造商和用戶(hù)可以對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和性能進(jìn)行評(píng)估和驗(yàn)證，以確保其在實(shí)際使用中的穩(wěn)定性和可靠性。該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于促進(jìn)閃存盤(pán)產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)化和互操作性，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性具有重要意義。