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《GJB360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法105 低氣壓試驗(yàn)》標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間:2023-03-29 09:37:01 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

GJB360A-1996是中國軍用電子及電氣元件試驗(yàn)方法的規(guī)范,其中方法105規(guī)定了低氣壓試驗(yàn)的要求。


低氣壓試驗(yàn)是一種模擬高空環(huán)境下元器件在低氣壓條件下的工作性能的試驗(yàn)方法。該試驗(yàn)方法主要用于測試元器件的性能指標(biāo)是否符合要求,以及在極端環(huán)境下元器件的適用性能。


一、范圍:

1. 主題內(nèi)容

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子及電氣元件的基本環(huán)境.物理性能和基本電性能等方畫的通用試驗(yàn)方法。

2. 適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于電阻器、電容器、電感器、連接器、開關(guān)、繼電器和變壓器等電子及電氣元件(以下簡稱元件)。如無特殊規(guī)定,本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于重量小于136kg或試驗(yàn)電壓低于50000v(有效值)的電子及電氣元件。

3. 應(yīng)用指南

本標(biāo)準(zhǔn)為元件提供統(tǒng)一的、可再現(xiàn)的試驗(yàn)方法,以確定元件對(duì)自然的及與軍事作戰(zhàn)有關(guān)的惡劣環(huán)境的適應(yīng)能力。但不能認(rèn)為本標(biāo)準(zhǔn)中的試驗(yàn)方法是準(zhǔn)確地全面地代表了某地理位置的實(shí)際使用情況。

本標(biāo)準(zhǔn)用統(tǒng)一方法敘述多種用途或單一用途的元件標(biāo)準(zhǔn)中性質(zhì)相近的試驗(yàn)方法。使試驗(yàn)方法統(tǒng)一化、標(biāo)準(zhǔn)化,并能廣泛地適用于各種元件。

本標(biāo)準(zhǔn)是制定軍用元件總規(guī)范或產(chǎn)品規(guī)范等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。如適用,也可用于本標(biāo)準(zhǔn)所未包括的元件。

有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)根據(jù)元件自身的特點(diǎn),可能經(jīng)受的環(huán)境條件、給定的技術(shù)經(jīng)濟(jì)指標(biāo)來確定采用哪些試驗(yàn)方法、應(yīng)力等級(jí)和試驗(yàn)順序。

當(dāng)由于軍事需要或元件自身特點(diǎn),使某些元件標(biāo)準(zhǔn)與本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)生矛盾時(shí),應(yīng)以元件標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定在試驗(yàn)過程中元件性能允許變化的極根。


二、試驗(yàn)設(shè)備:

低氣壓真空試驗(yàn)箱

(圖1)


三、試驗(yàn)?zāi)康模?/p>

確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿的能力;確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力;梭驗(yàn)低氣壓對(duì)元件工作特性的影響及低氣壓下的其它效應(yīng);有時(shí)候可用于確定機(jī)電元件的耐久性。


本方法是常溫條件下的低氣壓試驗(yàn)。若裝置元件的設(shè)備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用,而且能夠斷定高低溫和氣壓的綜合作用是造成失效的主要原因,常溫低氣壓試驗(yàn)不能使用時(shí),則應(yīng)進(jìn)行溫度-氣壓綜合環(huán)境試驗(yàn)。


標(biāo)簽: 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 測試標(biāo)準(zhǔn)

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