《GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)》標(biāo)準(zhǔn)

《GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，屬于《GB/T 12085 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法》系列標(biāo)準(zhǔn)的第5部分。

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)和光學(xué)儀器在低溫、低氣壓環(huán)境下的綜合試驗(yàn)方法，包括試驗(yàn)裝置的要求、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)步驟、試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)注意的事項(xiàng)、試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定方法等內(nèi)容。

一、范圍：
本部分規(guī)定了低溫與低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)﹑試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。
本部分適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤(pán)上或?qū)椛鲜褂玫墓鈱W(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)，熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度，包括測(cè)定水的冷凝和凍結(jié)對(duì)儀器或零部件的附加影響。

二、試驗(yàn)設(shè)備：
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱

三、部分試驗(yàn)條件：
1. 試驗(yàn)箱(室)必須是空氣流通的低氣壓或是高空模擬試驗(yàn)箱(室)，它可以是低溫、低氣壓的綜合試驗(yàn)箱(室)，也可將低氣壓箱放在低溫室中。試驗(yàn)箱(室)的大小及試樣安放的位置，應(yīng)能保證所有試樣都處于均勻的環(huán)境條件下。

2. 在試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，試樣需先達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)溫度，然后再把箱內(nèi)壓力降到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定值。

3. 按條件試驗(yàn)方法51(見(jiàn)4.2)進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，在升壓期間，可用高純氮?dú)饣驅(qū)υ嚇虞椛浼訜岱椒?，避免試樣上產(chǎn)生結(jié)霜和凝露。

在低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)中，試驗(yàn)裝置應(yīng)能夠提供符合要求的低溫和低氣壓環(huán)境，同時(shí)保證試驗(yàn)過(guò)程的可控性和穩(wěn)定性。試驗(yàn)條件包括試驗(yàn)溫度、氣壓、試驗(yàn)時(shí)間等參數(shù)。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)，可用于產(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、生產(chǎn)檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)，也可用于產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)定和認(rèn)證等方面。