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《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合》標準

時間:2023-03-28 00:00:00 作者:環(huán)儀小編 點擊:

《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合》是中國國家標準,主要規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在低氣壓、高溫、低溫、振動等環(huán)境下進行綜合試驗的方法。

該標準適用于電工電子產(chǎn)品和元器件、工業(yè)產(chǎn)品和汽車、航空航天和船舶等行業(yè)的產(chǎn)品和設備,主要用于評估產(chǎn)品的可靠性和適應性,在產(chǎn)品設計、生產(chǎn)和使用等方面具有重要的指導意義。


一、范圍:
GB/T2423的本部分規(guī)定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/報動(隨機)綜合試驗的基本耍求、嚴酷等級,試驗程序以及其他技術細則。
本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(隨機)綜合作用下的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。


二、試驗設備:
四綜合壓試驗箱

《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合》標準(圖1)


該標準主要包括以下內容:

1. 試驗目的:通過模擬環(huán)境中的低氣壓、高溫、低溫和振動條件,評估產(chǎn)品的可靠性和適應性,為產(chǎn)品設計、生產(chǎn)和使用提供依據(jù)。

2. 試驗裝置:包括試驗室、試驗設備和測量儀器等。試驗室應符合相關標準,試驗設備應符合產(chǎn)品規(guī)格要求,測量儀器應準確可靠。

3. 試驗條件:試驗條件包括試驗溫度、濕度、氣壓和振動等。試驗溫度、濕度、氣壓和振動應符合產(chǎn)品規(guī)格要求和試驗要求。

4. 試驗方法:包括試驗前的準備工作、試驗過程中的控制要求和試驗結束后的處理方法等。其中,振動試驗采用隨機振動方式進行。

5. 試驗過程中的注意事項:包括試驗前的檢查、試驗中的安全措施、試驗中的異常處理和試驗結束后的處理等。

6. 試驗結果評定:對試驗結果進行評定和分析,判斷產(chǎn)品是否符合規(guī)格要求,為產(chǎn)品的設計和改進提供依據(jù)。


總之,該標準規(guī)定了在低氣壓、高溫、低溫、振動等環(huán)境下進行綜合試驗的方法,為評估產(chǎn)品的可靠性和適應性提供了指導。


標簽: 試驗標準 檢測標準

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