《GB/T 4937.2-2006 半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓》標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4937.2-2006《半導(dǎo)體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了半導(dǎo)體器件在低氣壓環(huán)境下進行的機械和氣候試驗方法。

該標(biāo)準(zhǔn)分為7個部分，包括試驗?zāi)康?、試驗條件、試驗方法、試驗過程、試驗后的評定、試驗報告和試驗注意事項等內(nèi)容。試驗?zāi)康氖菫榱嗽u估半導(dǎo)體器件在低氣壓條件下的性能和可靠性。

一、范圍：
本部分適用于半導(dǎo)體器件的低氣壓試驗。本項試驗的目的是測定元器件和材料避免電擊穿失效的能力，而這種失效是由于氣壓減小時，空氣和其他絕緣材料的絕緣強度減弱所造成的。本項試驗僅適用于工作電壓超過1 000 V的器件。
本項試驗適用于所有的空封半導(dǎo)體器件。本試驗僅適用于軍事和空間領(lǐng)域。
本項低氣壓試驗方法和IEC 60068-2-13大體上一致，但鑒于半導(dǎo)體器件的特殊要求，使用本部分條款。

二、試驗設(shè)備：
高低溫低氣壓試驗箱

三、試驗要求：
本試驗所需儀器設(shè)備包括一臺真空泵、一個合適的密封室(必要時,該密封室還應(yīng)具備能觀察樣品的裝置)、一臺可用于測量密封室模擬高度的氣壓表和--只能在直流到30 MHz內(nèi)檢測電流的微安表或示波器。

低氣壓試驗是指在大氣壓力低于標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的環(huán)境中進行的試驗。半導(dǎo)體器件在航空航天、高山、太空等環(huán)境中都可能遭受低氣壓的影響，因此進行低氣壓試驗可以模擬這些特殊環(huán)境下的情況，檢驗器件在極端條件下的性能和可靠性。

該標(biāo)準(zhǔn)的實施可以提高半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和可靠性，同時也可以保證器件在極端環(huán)境下的工作性能。